VE Series


Application
이미지 센서 IC에 요구되는 광원용 개구부를 확보하면서 동시 다수 측정에도 대응하고 있습니다.
VE 시리즈는 CCD/CMOS Imager 측정에 최적인 프로브 카드입니다.
Features
1.
낮은 스크럽으로 알루미늄 찌꺼기의 비산 방지
2.
동시 다수 측정에 의한 테스트 효율 향상
3.
광범위(저온에서 고온)한 온도 측정
4.
고주파 특성의 향상
Specifications [for image sensors]
Pitch (um) | 100 |
Pad size(um) | 60×75 |
Number of pins | 3K |
Probing area(mm) | 160×150 |
Contact Force (gf) | 2 |
Max OD (um) | 90 |
Temperature range(℃) | 75 |
Max. DC current (A) CCC | 0.4 |
Frequency(Gbps) | 10 |
*사양은 예고없이 변경 될 수 있습니다
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